Es gibt zwei Haupttypen von Elektronenmikroskopen: Transmissionselektronenmikroskope (TEM) und Rasterelektronenmikroskope (REM). Ein TEM erlaubt die Betrachtung von dünnen Schnitten von Proben, wobei der Elektronenstrahl die Probe durchdringt (in der Lichtmikroskopie mit dem Durchlichtmikroskop vergleichbar), während bei REM die Oberflächenstruktur von Proben abbildet wird (in der Lichtmikroskopie mit dem Auflichtmikroskop vergleichbar).

Sowohl beim TEM als auch beim REM gibt es vielfältige Analysenmethoden der Topografie sowie der Elementverteilungs- und Kristallstrukturanalyse. Näheres erfahren Sie bei den Kontaktpersonen für die Erstberatung.